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雷达连接器测试、校准与车规可靠性验证的硬件与治具，按六类组织。
RCT-EMC-S1 屏蔽效能测试舱
RCT-EMC-S1 屏蔽效能≥60 dB，按型号选配测试舱尺寸，用于雷达连接器屏蔽结构评估。
EMC 屏蔽效能RCT-EMC-R2 辐照泄漏扫描仪
RCT-EMC-R2 用近场探头扫描泄漏点，输出曲线与报表，定位孔径与搭接缺陷。
EMC 屏蔽效能RCT-EMC-P3 屏蔽接触探针
RCT-EMC-P3 为屏蔽测试配套接触探针，保证接地点与测量点稳定，降低重复测量不确定度。
EMC 屏蔽效能RCT-ENV-T1 温循湿热试验箱
RCT-ENV-T1 温度-65~150℃、湿度 10~98% RH，符合 GB/T 2423 与 IEC 60068，支持 RF 复测接口。
环境可靠性RCT-ENV-H3 热冲击验证舱
RCT-ENV-H3 提供高低温快速切换的热冲击工况，用于连接器热失配与界面老化的加速验证。
环境可靠性RCT-ENV-V2 振动盐雾复合台
RCT-ENV-V2 叠加随机/正弦振动与 5% NaCl 盐雾，模拟车规户外工况，试验后复测射频性能。
环境可靠性RCT-CFG-F2 接触力测量计
RCT-CFG-F2 在线监测插拔过程的接触力曲线，计数精度±1 次，辅助判定机械失效模式。
插拔耐久测试RCT-DUR-L3 寿命耐久台架
RCT-DUR-L3 气动/伺服加紧多工位耐久台架，配套夹具按连接器规格选配，支持长周期寿命验证。
插拔耐久测试RCT-INS-C1 插拔循环试验台
RCT-INS-C1 在受控轴向力下循环插拔并记录接触电阻，最大循环≥500 次，支持环境仓内复测。
插拔耐久测试RCT-ARR-M2 多通道阵列校准系统
RCT-ARR-M2 支持 4–32 通道同时采样与自动去嵌入，输出每通道幅相报告，提升阵列校准吞吐。
相位一致性比对RCT-PHA-C1 相位一致性比对仪
RCT-PHA-C1 相位分辨≤0.1°、幅度一致性≤0.2 dB，锁相到同一参考源做 pairwise 比对，适配阵列幅相配对。
相位一致性比对RCT-PHS-J3 稳相验证治具
RCT-PHS-J3 固定稳相电缆走向并打标记，用于相位稳定度验证，排除电缆漂移带来的误判。
相位一致性比对RCT-TDR-A2 阻抗分析仪
RCT-TDR-A2 阻抗分辨率≤0.1 Ω，输出 CSV/SNP，可移动参考面，用于特性阻抗与回损联合评估。
TDR 阻抗测试RCT-TDR-S1 阶跃源模块
RCT-TDR-S1 提供≤35 ps 快沿阶跃，配合时域反射定位阻抗不连续点，适配雷达连接器时域诊断。
TDR 阻抗测试RCT-TDR-P3 时域阻抗探针
RCT-TDR-P3 为 TDR 系统配套探针，按连接器规格选配，保证参考面稳定可复现。
TDR 阻抗测试RCT-DEB-P2 去嵌入探针组件
RCT-DEB-P2 用于把夹具与电缆效应从测得 S 参数中剥离，配套校准套件使用，保留参考面到连接器界面。
VNA S 参数测试RCT-LIN-V1 端口线性度验证模块
RCT-LIN-V1 验证 VNA 端口线性度与方向性，作为定期计量核查手段，保障长周期测试可追溯。
VNA S 参数测试RCT-VNA-K3 矢量网络分析仪校准套件
RCT-VNA-K3 面向雷达连接器 S 参数校准，覆盖 SOLT/TRL 校准与去嵌入，动态范围≥100 dB，适配 1.85/2.4/3.5mm 接口。
VNA S 参数测试